CMM

Ich habe hier vor einigen Monaten über unseren Erfolg beim Bau eines sensorlosen, erschwinglichen Flying-Probe-inspirierten In-Circuit-Testers für die Leiterplatten-Evaluierung mit Anwendung in der Testingenieurausbildung geschrieben. Wir werden morgen das Forschungspapier über dieses Testgerät auf der internationalen IEEE-Konferenz 2020 über Umwelt und Elektrotechnik in Madrid, Spanien, vorstellen unter „EDUCATION IN ELECTRICAL ENGINEERING“. Zusammenfassung: In diesem Beitrag [...]

Letzte Woche ist es mir gelungen, unsere Forschungsarbeit „Affordable Flying Probe-Inspired In-Circuit-Tester for Printed Circuit Boards Evaluation with Application in Test Engineering Education“ abzuschließen und beim IEEE Transactions on Education Journal einzureichen. Ich hoffe, dass es in diesem Journal akzeptiert wird. Unser Flying Probe-inspirierte In-Circuit-Tester wird Studenten beim Erlernen und Testen von Leiterplatten auf eine [...]