MELS

Ich habe hier vor einigen Monaten über unseren Erfolg beim Bau eines sensorlosen, erschwinglichen Flying-Probe-inspirierten In-Circuit-Testers für die Leiterplatten-Evaluierung mit Anwendung in der Testingenieurausbildung geschrieben. Wir werden morgen das Forschungspapier über dieses Testgerät auf der internationalen IEEE-Konferenz 2020 über Umwelt und Elektrotechnik in Madrid, Spanien, vorstellen unter „EDUCATION IN ELECTRICAL ENGINEERING“. Zusammenfassung: In diesem Beitrag [...]