In-Circuit-Tester

Heute habe ich das Vergnügen, Ihnen mein Forschungspapier mit dem Titel „Improving the Solar Reliability Factor of a Dual-Axis Solar Tracking System using Energy-Efficient Testing Solutions“ zu präsentieren. Heute wurde diesem Forschungsartikel im Energies Journal publiziert. Wenn Sie mehr darüber erfahren möchten, was der Solar Reliability Factor ist, lade ich Sie ein, unsere Forschungsarbeit mit [...]

Es ist mir soeben gelungen, unser Forschungsarbeit zu den fehlerabdeckungsbewussten Metriken für die Bewertung des Zuverlässigkeitsfaktors von solaren Nachführsystemen (Fault Coverage-Aware Metrics for Evaluating the Reliability Factor of Solar Tracking Systems) zu präsentieren. Die Forschungsarbeit wurde heute im Energies Journal veröffentlicht, das einen Impact Factor von 2.702 hat und auch im Web of Science aka [...]

Nachdem ich 2 von 3 Forschungsartikeln abgeschlossen hatte, die ich mit Raul zu schreiben plane, kam mir heute die Idee für eine weitere Forschungsarbeit, die ich als letzte Forschungsarbeit veröffentlichen möchte, wobei er Doktorand ist. Warum? Weil ich glaube, dass diese Arbeit so großartig sein wird, dass er neben der rekonfigurierbaren Forschungsarbeit, an der wir [...]

Ich habe hier vor einigen Monaten über unseren Erfolg beim Bau eines sensorlosen, erschwinglichen Flying-Probe-inspirierten In-Circuit-Testers für die Leiterplatten-Evaluierung mit Anwendung in der Testingenieurausbildung geschrieben. Wir werden morgen das Forschungspapier über dieses Testgerät auf der internationalen IEEE-Konferenz 2020 über Umwelt und Elektrotechnik in Madrid, Spanien, vorstellen unter „EDUCATION IN ELECTRICAL ENGINEERING“. Zusammenfassung: In diesem Beitrag [...]

Letzte Woche ist es mir gelungen, unsere Forschungsarbeit „Affordable Flying Probe-Inspired In-Circuit-Tester for Printed Circuit Boards Evaluation with Application in Test Engineering Education“ abzuschließen und beim IEEE Transactions on Education Journal einzureichen. Ich hoffe, dass es in diesem Journal akzeptiert wird. Unser Flying Probe-inspirierte In-Circuit-Tester wird Studenten beim Erlernen und Testen von Leiterplatten auf eine [...]

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