Unterstützung der Studenten beim Erlernen und Testen von Leiterplatten auf eine viel billigere und einfachere Weise.

Letzte Woche ist es mir gelungen, unsere Forschungsarbeit „Affordable Flying Probe-Inspired In-Circuit-Tester for Printed Circuit Boards Evaluation with Application in Test Engineering Education“ abzuschließen und beim IEEE Transactions on Education Journal einzureichen.

Ich hoffe, dass es in diesem Journal akzeptiert wird. Unser Flying Probe-inspirierte In-Circuit-Tester wird Studenten beim Erlernen und Testen von Leiterplatten auf eine viel billigere (wir haben alle Komponenten für ca. 25 Dollar gekauft) und einfachere Weise unterstützen.

Later Edit:

Heute habe ich eine E-Mail erhalten, in der mir mitgeteilt wurde, dass die Forschungsarbeit aus folgenden Gründen nicht im IEEE Transactions on Education Journal akzeptiert wurde:

„Although, as you note, this may be of interest to educators, this is not sufficient to fall within the scope of IEEE Transactions on Education. To be within scope, this application must be explicitly investigated and the impact on learning outcomes evaluated.

Nun, es scheint, dass der Aufbau nicht ausreichend war, aber auch die Bewertung der Lernergebnisse von Schülern, die damit das Testen von Leiterplatten erlernen und üben, ist ein Muss. Da ich nicht viel Zeit habe und meine Doktorarbeit so schnell wie möglich abschließen möchte, habe ich mich entschieden, die Arbeit so wie sie ist, (ohne eine Studie darüber zu erstellen, wie sie sich auf das Lernen der Studenten auswirkt), an eine andere Konferenz zu schicken.

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